兩用測(cè)厚儀DualScope FMP20的詳細(xì)資料：

兩用測(cè)厚儀DualScope FMP20

篤摯儀器（上海）有限公司是專(zhuān)業(yè)的測(cè)量?jī)x器、測(cè)量工具、精密量?jī)x、模具檢具代理商，我公司本著“求實(shí)、誠(chéng)信、互惠、雙贏(yíng)”的經(jīng)營(yíng)理念，堅(jiān)持“客戶(hù)至上、品質(zhì)*”的宗旨服務(wù)于客戶(hù)。主要代理日本、瑞士、德國(guó)，美國(guó)的計(jì)量?jī)x器、實(shí)驗(yàn)室儀器。

DualScope FMP20涂鍍層測(cè)厚儀享譽(yù)的手提式儀器和插拔式探頭的新一代產(chǎn)品問(wèn)世了，可以用來(lái)無(wú)損、高精度測(cè)量涂鍍層厚度。從我們的新產(chǎn)品系列中選擇一款含智慧型探頭的涂鍍層測(cè)厚儀可以滿(mǎn)足您特定的測(cè)量需求。 新一代手提式儀器FMP20配上種類(lèi)繁多的插拔式探頭提供的測(cè)量。除了用戶(hù)只能創(chuàng)建一個(gè)應(yīng)用程式外，這些儀器操作簡(jiǎn)單、堅(jiān)固耐用，幾乎適合每一種涂鍍層的測(cè)厚要求，這些應(yīng)用包括廣泛的噴涂工件和特殊的復(fù)雜涂層。

DualScope FMP20工作原理：

磁感應(yīng)測(cè)量原理

采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線(xiàn)圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。

電渦流測(cè)量原理

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線(xiàn)圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測(cè)頭專(zhuān)門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱(chēng)之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線(xiàn)圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

兩用測(cè)厚儀DualScope FMP20

便攜式測(cè)量?jī)x器具有集成或可互換的探頭，用于直接在工件上測(cè)量涂層厚度。

DualScope FMP20

雙功能FMP20 該通用型號(hào)為磁感應(yīng)和渦流方式提供自動(dòng)的基板材料識(shí)別功能。 這兩個(gè)單元都能夠測(cè)量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導(dǎo)電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP20型號(hào)的附加功能包括多達(dá)20,000個(gè)讀數(shù)的擴(kuò)展內(nèi)存，多達(dá)100個(gè)可校準(zhǔn)應(yīng)用程序，塊的日期和時(shí)間戳，帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動(dòng)基材識(shí)別功能。

•外部按鍵觸發(fā)測(cè)量采集
•超過(guò)公差限制時(shí)的視覺(jué)和視覺(jué)警告
•選項(xiàng)藍(lán)牙或COM附加可用于默認(rèn)USB接口
測(cè)量應(yīng)用記憶體： -
•多達(dá)100個(gè)測(cè)量應(yīng)用的應(yīng)用存儲(chǔ)器，包括 校準(zhǔn)
•內(nèi)存多達(dá)20,000張讀數(shù)
•將讀數(shù)分配到4,000個(gè)塊
•塊的日期和時(shí)間戳
•測(cè)量應(yīng)用的通用歸一化/校準(zhǔn)
•通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試測(cè)量驗(yàn)證校正校準(zhǔn)

兩用測(cè)厚儀DualScope FMP20